APLICACION DEL LASER FEMTO FIBRE COMB A LA METROLOGIA DE FRECUENCIAS PARA COMUNI...
APLICACION DEL LASER FEMTO FIBRE COMB A LA METROLOGIA DE FRECUENCIAS PARA COMUNICACIONES OPTICAS
EN 2007 EL DEPARTAMENTO DE METROLOGIA DEL IFA-CSIC CONSIGUIO LOS ELEMENTOS BASICOS PARA LA INSTALACION DE UNA FUENTE FEMTO FIBRE COMB (FFC O FFS), A TRAVES DE LA ACCION ESPECIAL TEC2007-29618-E (CON LA COFINANCIACION DEL CSIC, UAH...
EN 2007 EL DEPARTAMENTO DE METROLOGIA DEL IFA-CSIC CONSIGUIO LOS ELEMENTOS BASICOS PARA LA INSTALACION DE UNA FUENTE FEMTO FIBRE COMB (FFC O FFS), A TRAVES DE LA ACCION ESPECIAL TEC2007-29618-E (CON LA COFINANCIACION DEL CSIC, UAH Y UPM), LA PARTE ACTUALMENTE OPERATIVA DEL FFC CONSISTE EN UN OSCILADOR DE FIBRA OPTICA QUE EMITE PULSOS DE 80 FS A 1550 NM CON UNA FRECUENCIA DE REPETICION DE 100 MHZ, DOS AMPLIFICADORES EDFA, UN MODULO DE GENERACION DE SUPERCONTINUO Y UN INTERFEROMETRO NO LINEAL (F-2F), ESTE PROYECTO SE DEDIDA A EXPLORAR SU APLICACION PARA LA MEDIDA PRECISA DE FRECUENCIAS DE REFERENCIA PARA COMUNICACIONES OPTICAS,UNA FUENTE LASER DE PEINE DE FRECUENCIAS (FFC) CONSISTE EN MILES DE FRECUENCIAS EQUI-ESPACIADAS EN VARIOS THZ, UN PEINE DE FRECUENCIA SE DEFINE DE FORMA INEQUIVOCA POR LA FRECUENCIA DE REPETICION DE PULSOS FREP, QUE CORRESPONDE AL ESPACIADO ENTRE LINEAS DEL PEINE Y LA FRECUENCIA DEL CARRIER-ENVELOPE OFFSET (CEO) FCEO QUE DEFINE EL DESPLAZAMIENTO DEL PEINE EN LA FRECUENCIA CERO, FREP Y FCEO ESTAN EN EL DOMINIO DE RADIOFRECUENCIA Y SE PUEDEN DETERMINAR CON TECNICAS DE MEDIDA YA BIEN DEFINIDAS, EL BATIDO DE FRECUENCIA OPTICA (WOPT) CON LA FRECUENCIA MAS PROXIMA DEL PEINE (WX) PERMITE DETERMINAR ESTA COMO WOPT = M*FREP + FCEO + FX CON LA PRECISION DE LA MEDIDA DE LAS FRECUENCIAS DE MW,ESTE PROYECTO ABORDA LA PUESTA A PUNTO DE LA FFC PARA LA ESTABILIZACION Y MEDIDA DE FRECUENCIAS OPTICAS Y PARA LA CARACTERIZACION DE LAS PROPIEDADES NO LINEALES DE SEMICONDUCTORES PARA COMUNICACIONES OPTICAS (EN COORDINACION CON EL PROYECTO FASTCOM), LOS OBJETIVOS DEL PROYECTO SON:-PUESTA A PUNTO LA FFC DEL IFA, SE PRETENDE PONER A PUNTO LA FUENTE TOPTICAL FFS PARA LA MEDIDA CON PRECISION DE FRECUENCIAS OPTICAS Y LA CARACTERIZACION NO LINEAL DE SEMICONDUCTORES (OBJETIVOS DEL PROYECTO COORDINADO FIRMTCOM (FAETON+FASTCOM)), ESTE OBJETIVO NOS DARA LA DEFINICION DE NUESTRO PEINE Y LA INCERTIDUMBRE MINIMA ALCANZABLE EN LA MEDIDA DE FRECUENCIAS OPTICAS, -DESARROLLAR DISPOSITIVOS DE FIBRA OPTICA UTILES EN LA METROLOGIA DE FRECUENCIAS CON TECNICAS DE FFS, SE ESTUDIARAN METODOS EFECTIVOS DE FILTRADO DE LAS EMISIONES DE LAS LINEAS DEL FFS TANTO PARA CONSEGUIR UN ADECUADO BATIDO CON LA FRECUENCIA A MEDIR Y PARA CONSEGUIR CONVERTIR LA FFS EN UN GENERADOR ESTABLE DE FRECUENCIAS; DESARROLLAREMOS LASERES ESTABLES Y ULTRA ESTRECHOS UTILES PARA LA DISTRIBUCION DE FRECUENCIAS ITU CON MUY BAJA INCERTIDUMBRE Y ALTA ESTABILIDAD Y ESTUDIAREMOS METODOS DE MEJORA DEL SUPERCONTINUO DEL PEINE HASTA EXTENDERLO EN DOS OCTAVAS CUBRIENDO LAS REGIONES DE IR PROXIMO Y VISIBLE, -ESTUDIO DE LOS METODOS DE DISTRIBUCION DE PULSOS DE RELOJ Y FRECUENCIAS DE REFERENCIA EN REDES DE FIBRA OPTICA, SE ABORDARAN TRES METODOS ESPECIFICOS: MODULACION EN AMPLITUD DE LASERES CW (DISTRIBUCION DE UNA FRECUENCIA DE MICROONDA DE REFERENCIA), DISTRIBUCION DE UN LASER CW ESTABILIZADO (DISTRIBUCION DE UNA FRECUENCIA OPTICA DE REFERENCIA) Y DISTRIBUCION DE UN PEINE DE FRECUENCIAS (SIMULTANEA DISTRIBUCION DE REFERENCIAS OPTICAS Y DE MICROONDAS),-DESARROLLO DE HERRAMIENTAS DE MEDIDA ESPECIFICAS BASADAS EN FFC PARA LA CARACTERIZACION NO LINEAL DE SEMICONDUCTORES, OPTIMIZAREMOS EL FFS PARA LA CARACTERIZACION DE SEMICONDUCTORES, NANOETRUCTURAS Y GUIAS DE ONDA, ESPECIFICAMENTE, SE TRABAJARA EN LA PUESTA A PUNTO Y OPTIMIZACION DE TRES ESQUEMAS: Z-SCAN, MEDIDAS DE ¿PUMP AND PROBE¿ Y SATURACION Y ABSORCION DE LAS GUIAS DE ONDA FABRICADAS EN EL PROYECTO FASTCOM, PEINE DE FRECUENCIAS\FRECUENCIAS DE REFERENCIA\BRILLOUIN EN FIBRAS OPTICAS\SINCRONIZACION DE RELOJES\COMUNICACIONES OPTICAS\OPTICA NO LINEALver más
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