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PGC2018-099744-B-I00

Financiado

AMPLIFICACION DE LOS FENOMENOS OPTOELECTRONICOS EN MICROCAVIDADES

ESTE PROYECTO ESTA BASADO EN LAS PROPIEDADES FUNDAMENTALES DE MICROCAVIDADES OPTICAS (SEAN DE SILICIO O DE PEROVSKITA), QUE SE CARACTERIZAN POR UNA FUERTE MODIFICACION DE LA ABSORCION Y LA EMISION OPTICA, Y DE SUS APLICACIONES EN... ver más

01/01/2018

CSIC

61K€

Presupuesto del proyecto: 61K€

Líder del proyecto

AGENCIA ESTATAL CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGA... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

TRL 2-3 | 552M€

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2018-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

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CSIC

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Líder del proyecto

AGENCIA ESTATAL CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGA... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

TRL 2-3 | 552M€

Presupuesto del proyecto 61K€

Descripción del proyecto ESTE PROYECTO ESTA BASADO EN LAS PROPIEDADES FUNDAMENTALES DE MICROCAVIDADES OPTICAS (SEAN DE SILICIO O DE PEROVSKITA), QUE SE CARACTERIZAN POR UNA FUERTE MODIFICACION DE LA ABSORCION Y LA EMISION OPTICA, Y DE SUS APLICACIONES EN DISPOSITIVOS OPTOELECTRONICOS COMO CELULAS SOLARES O EMISORES, EL SILICIO ES EL MEJOR MATERIAL CONOCIDO Y ES UN EXCELENTE SISTEMA PARA PROBAR NUEVOS CONCEPTOS, COMO LA ABSORCION OPTICA POR ENCIMA DEL 100% EMPLEANDO EL CONCEPTO DE CAVIDADES OPTICAS, LA FAMILIA DE LAS PEROVSKITAS ES EL NUEVO MATERIAL ESTRELLA EMERGENTE EN CIENCIA DE MATERIALES DEBIDO A SUS EXCELENTES PROPIEDADES COMO EMISORES OPTICOS Y, COMO CONSECUENCIA, SUS EXTRAORDINARIOS RENDIMIENTOS EN DISPOSITIVOS FOTOVOLTAICOS, EN ESTE PROYECTO, ESTUDIAREMOS LA RELACION ENTRE LA EMISION OPTICA Y LA EXCITACION DE LOS PORTADORES DE CARGA RESPONSABLES DE LA EFICIENCIA DE LA CELULA SOLAR (RECICLADO DE FOTONES), ESTAMOS INTERESADOS EN PARTICULAR EN MICROCAVIDADES Y GUIAS DE ONDAS CON UN CONFINAMIENTO OPTICO GRANDE, PARA LLEVAR A CABO ESTOS ESTUDIOS A LA ESCALA MICROMETRICA, PROPONEMOS EL USO PIONERO DE UNA TECNICA INNOVADORA QUE HEMOS DESARROLLADO Y LLAMADO SEOM, DE LAS SIGLAS EN INGLES DE SCANNING ELECTRO-OPTICAL MICROSCOPE, QUE PERMITE MONITORIZAR IN-SITU DISTINTOS PARAMETROS OPTICOS Y ELECTRONICOS, TODA ESA INFORMACION ES VITAL HACIA LA OPTIMIZACION DE DISPOSITIVOS OPTOELECTRONICOS, MICROCAVIDADES\PEROVSKITAS HÍBRIDAS\MICROESFERAS DE SILICIO\RECICLADO DE FOTONES\TPA

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